<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC
  "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20241031//EN"
  "https://jats.nlm.nih.gov/publishing/1.4/JATS-journalpublishing1-4.dtd">

<article
    xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"
    xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"
    article-type="research-article"
    dtd-version="1.4"
    xml:lang="ru">

  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">journal</journal-id>

      <journal-title-group>
        <journal-title>Вестник Объединенного института высоких температур</journal-title>
        <abbrev-journal-title abbrev-type="publisher">Вестник ОИВТ РАН</abbrev-journal-title>
      </journal-title-group>

      <issn pub-type="epub">2658-669X</issn>

      <publisher>
        <publisher-name>ОИВТ РАН</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>

    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">146</article-id>
      <article-id pub-id-type="doi"></article-id>

      <title-group>
        <article-title>Влияние концентрации дефектов в графене на емкость двойного слоя в~водных растворах: DFT-моделирование</article-title>
        <trans-title-group xml:lang="en">
          <trans-title>
            Effect of Defect Concentration in Graphene on Double Layer Capacitance in Aqueous Solutions: DFT Simulation
          </trans-title>
        </trans-title-group>
      </title-group>

      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Павлов</surname>
              <given-names>Сергей Владимирович</given-names>
            </name>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Pavlov</surname>
              <given-names>S.V.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <xref ref-type="aff" rid="id1">ОИВТ РАН</xref>
        </contrib>

        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Кисленко</surname>
              <given-names>Виталий Александрович</given-names>
            </name>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Kislenko</surname>
              <given-names>V.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <xref ref-type="aff" rid="id2">ОИВТ РАН</xref>
        </contrib>

        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Кисленко</surname>
              <given-names>Сергей Александрович</given-names>
            </name>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Kislenko</surname>
              <given-names>S.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <xref ref-type="aff" rid="id3">ОИВТ РАН</xref>
        </contrib>

      </contrib-group>

      <aff-alternatives id="id1">
        <aff xml:lang="ru">
          <label>ОИВТ РАН</label>
          <institution>Объединенный институт высоких температур РАН (Москва, Россия)</institution>
          <addr-line>Москва, Россия</addr-line>
        </aff>
        <aff xml:lang="en">
          <label>JIHT RAS</label>
          <institution>Joint Institute for High Temperatures of the Russian Academy of Sciences (Moscow, Russia)</institution>
          <addr-line>Moscow, Russia</addr-line>
        </aff>
      </aff-alternatives>

      <aff-alternatives id="id2">
        <aff xml:lang="ru">
          <label>ОИВТ РАН</label>
          <institution>Объединенный институт высоких температур РАН (Москва, Россия)</institution>
          <addr-line>Москва, Россия</addr-line>
        </aff>
        <aff xml:lang="en">
          <label>JIHT RAS</label>
          <institution>Joint Institute for High Temperatures of the Russian Academy of Sciences (Moscow, Russia)</institution>
          <addr-line>Moscow, Russia</addr-line>
        </aff>
      </aff-alternatives>

      <aff-alternatives id="id3">
        <aff xml:lang="ru">
          <label>ОИВТ РАН</label>
          <institution>Объединенный институт высоких температур РАН (Москва, Россия)</institution>
          <addr-line>Москва, Россия</addr-line>
        </aff>
        <aff xml:lang="en">
          <label>JIHT RAS</label>
          <institution>Joint Institute for High Temperatures of the Russian Academy of Sciences (Moscow, Russia)</institution>
          <addr-line>Moscow, Russia</addr-line>
        </aff>
      </aff-alternatives>

      <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" pub-type="epub" iso-8601-date="2023-11-17">
        <day>17</day>
        <month>11</month>
        <year>2023</year>
      </pub-date>

      <volume>9</volume>
      <issue>11</issue>
      <fpage>60</fpage>
      <lpage>64</lpage>

      <abstract xml:lang="ru">
        <p>Суперконденсаторы являются перспективным типом электрохимических устройств, в первую очередь, благодаря их высокой удельной мощности. При этом, основным их недостатком является низкая удельная энергоемкость, которая может быть увеличена за счет разработки электродного материала с высокой площадью поверхности, например, на основе графена. Главный недостаток графена в этой связи --- его низкая квантовая емкость, лимитирующая емкость межфазной границы электрод--электролит. В данной работе изучена возможность повышения удельной емкости межфазной границы графен--электролит за счет создания внутренних дефектов в графене: единичных вакансий и дефектов Стоуна--Уэльса. Рассчитана дифференциальная квантовая емкость графена с различной концентрацией дефектов как функция смещения энергии Ферми относительно точки Дирака при зарядке поверхности. Показано, что с ростом концентрации единичных вакансий интегральная емкость растет, выходя на плато со значением порядка 18 ,мкФ ,$ cdot$ ,см$^{-2}$ при концентрации более 0.6 ,нм$^{-2}$. Дефекты Стоуна--Уэльса менее эффективны для увеличения интегральной емкости межфазной границы. Емкость составляет порядка 9--10 ,мкФ ,$ cdot$ ,см$^{-2}$ при концентрации дефектов $ sim$1 ,нм$^{-2}$. Также в работе показано влияние концентрации дефектов на константу скорости внешнесферного электронного переноса, являющейся ключевой стадией во многих электрохимических устройствах.</p>
      </abstract>

      <abstract xml:lang="en" abstract-type="summary">
        <p>Supercapacitors are a promising type of electrochemical devices, primarily due to their high power density. At the same time, their main disadvantage is low specific energy density, which can be increased by developing an electrode material with a high surface area, for example, based on graphene. The main drawback of graphene in this regard is its low quantum capacitance, which limits the capacitance of the electrode-electrolyte interface. In this work, we studied the possibility of increasing the specific capacitance of the graphene-electrolyte interface by creating internal defects in graphene: monovacancies and Stone-Wales defects. The differential quantum capacitance of graphene with different concentrations of defects is calculated as a function of the shift of the Fermi level with respect to the Dirac point when the surface is charged. It is shown that as the concentration of monovacancies increases, the integral capacitance increases, reaching a plateau with a value of the order of 18~μF~$ cdot$~cm$^{-2}$ at a concentration of more than 0.6~nm$^{-2}$. Stone-Wales defects are less effective for increasing the integral capacitance of the interface. The capacitance is about 9-10~μF~$ cdot$~cm$^{-2}$ at a defect concentration of $ sim$1~nm$^{-2}$. This work also shows the influence of defect concentration on the rate constant of outer-sphere electron transfer, which is a key stage in many electrochemical devices.</p>
      </abstract>

      <kwd-group kwd-group-type="author-keywords" xml:lang="ru">
        <kwd>теория функционала плотности</kwd>
        <kwd>суперконденсаторы</kwd>
        <kwd>графен</kwd>
        <kwd>точечные дефекты</kwd>
        <kwd>электронный перенос</kwd>
      </kwd-group>

      <kwd-group kwd-group-type="author-keywords" xml:lang="en">
        <kwd>density functional theory</kwd>
        <kwd>supercapacitors</kwd>
        <kwd>graphene</kwd>
        <kwd>point defects</kwd>
        <kwd>electron transfer</kwd>
      </kwd-group>

    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref id="ref1">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Lu M. Supercapacitors: materials, systems, and applications. — : John Wiley &amp; Sons, 2013         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Lu M. Supercapacitors: materials, systems, and applications. — : John Wiley &amp; Sons, 2013         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref2">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Simon P., Gogotsi Y. // Nat. Mater. — 2008. — Vol. 7. — No. 11. — P. 845–854         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Simon P., Gogotsi Y. // Nat. Mater. — 2008. — Vol. 7. — No. 11. — P. 845–854         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref3">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Miller J. R., Simon P. // Electrochem. Soc. Interface. — 2008. — Vol. 17. — No. 1. — P. 31         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Miller J. R., Simon P. // Electrochem. Soc. Interface. — 2008. — Vol. 17. — No. 1. — P. 31         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref4">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Schütter C., Pohlmann S., Balducci A. // Adv. Energy Mater. — 2019. — Vol. 9. — No. 25. — P. 1900334         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Schütter C., Pohlmann S., Balducci A. // Adv. Energy Mater. — 2019. — Vol. 9. — No. 25. — P. 1900334         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref5">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Béguin F., Presser V., Balducci A., Frackowiak E. // Adv. Mater. — 2014. — Vol. 26. — No. 14. — P. 2283–2283         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Béguin F., Presser V., Balducci A., Frackowiak E. // Adv. Mater. — 2014. — Vol. 26. — No. 14. — P. 2283–2283         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref6">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Arruda T. M., Heon M., Presser V., Hillesheim P. C., Dai S., Gogotsi Y., Kalinin S. V., Balke N. // Energy Environ. Sci. — 2013. — Vol. 6. — No. 1. — P. 225–231         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Arruda T. M., Heon M., Presser V., Hillesheim P. C., Dai S., Gogotsi Y., Kalinin S. V., Balke N. // Energy Environ. Sci. — 2013. — Vol. 6. — No. 1. — P. 225–231         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref7">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Zhang L. L., others // Energy Environ. Sci. — 2012. — Vol. 5. — No. 11. — P. 9618–9625         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Zhang L. L., others // Energy Environ. Sci. — 2012. — Vol. 5. — No. 11. — P. 9618–9625         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref8">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Xu Q., Yang G., Fan X., Zheng W. // ACS Omega. — 2019. — Vol. 4. — No. 8. — P. 13209–13217         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Xu Q., Yang G., Fan X., Zheng W. // ACS Omega. — 2019. — Vol. 4. — No. 8. — P. 13209–13217         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref9">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Mousavi-Khoshdel M., Targholi E., Momeni M. J. // J. Phys. Chem. C. — 2015. — Vol. 119. — No. 47. — P. 26290–26295         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Mousavi-Khoshdel M., Targholi E., Momeni M. J. // J. Phys. Chem. C. — 2015. — Vol. 119. — No. 47. — P. 26290–26295         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref10">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Chen J., others // Angew. Chem., Int. Ed. — 2016. — Vol. 55. — No. 44. — P. 13822–13827         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Chen J., others // Angew. Chem., Int. Ed. — 2016. — Vol. 55. — No. 44. — P. 13822–13827         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref11">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Kislenko V. A., Pavlov S. V., Kislenko S. A. // Electrochim. Acta. — 2020. — Vol. 341. — P. 136011         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Kislenko V. A., Pavlov S. V., Kislenko S. A. // Electrochim. Acta. — 2020. — Vol. 341. — P. 136011         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref12">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Luican-Mayer A., others // 2D Mater. — 2016. — Vol. 3. — No. 3. — P. 031005         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Luican-Mayer A., others // 2D Mater. — 2016. — Vol. 3. — No. 3. — P. 031005         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref13">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Ijäs M., Ervasti M., Uppstu A., Liljeroth P., Van Der Lit J., Swart I., Harju A. // Phys. Rev. B. — 2013. — Vol. 88. — No. 7. — P. 075429         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Ijäs M., Ervasti M., Uppstu A., Liljeroth P., Van Der Lit J., Swart I., Harju A. // Phys. Rev. B. — 2013. — Vol. 88. — No. 7. — P. 075429         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref14">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Meyer J. C., Kisielowski C., Erni R., Rossell M. D., Crommie M., Zettl A. // Nano Lett. — 2008. — Vol. 8. — No. 11. — P. 3582–3586         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Meyer J. C., Kisielowski C., Erni R., Rossell M. D., Crommie M., Zettl A. // Nano Lett. — 2008. — Vol. 8. — No. 11. — P. 3582–3586         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref15">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Ugeda M. M., Brihuega I., Guinea F., Gómez-Rodr\&apos;guez J. M. // Phys. Rev. Lett. — 2010. — Vol. 104. — No. 9. — P. 096804         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Ugeda M. M., Brihuega I., Guinea F., Gómez-Rodr\&apos;guez J. M. // Phys. Rev. Lett. — 2010. — Vol. 104. — No. 9. — P. 096804         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref16">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Kislenko V. A., Pavlov S. V., Fedorov M. V., Kislenko S. A. // JETP Lett. — 2021. — Vol. 114. — No. 5. — P. 263–268         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Kislenko V. A., Pavlov S. V., Fedorov M. V., Kislenko S. A. // JETP Lett. — 2021. — Vol. 114. — No. 5. — P. 263–268         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref17">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Pavlov S. V., Kislenko V. A., Kislenko S. A. // J. Phys. Chem. C. — 2020. — Vol. 124. — No. 33. — P. 18147–18155         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Pavlov S. V., Kislenko V. A., Kislenko S. A. // J. Phys. Chem. C. — 2020. — Vol. 124. — No. 33. — P. 18147–18155         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref18">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Xu W. Y., Zhang L. Z., Huang L., Que Y. D., Wang Y. L., Lin X., Du S. X. // Chin. Phys. B. — 2019. — Vol. 28. — No. 4. — P. 046801         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Xu W. Y., Zhang L. Z., Huang L., Que Y. D., Wang Y. L., Lin X., Du S. X. // Chin. Phys. B. — 2019. — Vol. 28. — No. 4. — P. 046801         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref19">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Kumar K., Thakur R., Sharma M., Singh A. // AIP Conf. Proc. — 2017. — Vol. 1832. — No. 1. — P. 050139         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Kumar K., Thakur R., Sharma M., Singh A. // AIP Conf. Proc. — 2017. — Vol. 1832. — No. 1. — P. 050139         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref20">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Kresse G., Furthmüller J. // Phys. Rev. B. — 1996. — Vol. 54. — No. 16. — P. 11169         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Kresse G., Furthmüller J. // Phys. Rev. B. — 1996. — Vol. 54. — No. 16. — P. 11169         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref21">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Perdew J. P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. — 1996. — Vol. 77. — No. 18. — P. 3865         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Perdew J. P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. — 1996. — Vol. 77. — No. 18. — P. 3865         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref22">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Zhu H., Huang P., Jing L., Zuo T., Zhao Y., Gao X. // J. Mater. Chem. — 2012. — Vol. 22. — No. 5. — P. 2063–2068         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Zhu H., Huang P., Jing L., Zuo T., Zhao Y., Gao X. // J. Mater. Chem. — 2012. — Vol. 22. — No. 5. — P. 2063–2068         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref23">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Monkhorst H. J., Pack J. D. // Phys. Rev. B. — 1976. — Vol. 13. — No. 12. — P. 5188         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Monkhorst H. J., Pack J. D. // Phys. Rev. B. — 1976. — Vol. 13. — No. 12. — P. 5188         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref24">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Gerischer H. // Surf. Sci. — 1969. — Vol. 18. — No. 1. — P. 97–122         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Gerischer H. // Surf. Sci. — 1969. — Vol. 18. — No. 1. — P. 97–122         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref25">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Sun S., Qi Y., Zhang T. Y. // Electrochim. Acta. — 2015. — Vol. 163. — P. 296–302         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Sun S., Qi Y., Zhang T. Y. // Electrochim. Acta. — 2015. — Vol. 163. — P. 296–302         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref26">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Memming R. // Semicond. Electrochem. — 2015. — P. 49–64         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Memming R. // Semicond. Electrochem. — 2015. — P. 49–64         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref27">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Bard A. J., Faulkner L. R., White H. S. Electrochemical methods: fundamentals and applications. — : John Wiley &amp; Sons, 2022         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Bard A. J., Faulkner L. R., White H. S. Electrochemical methods: fundamentals and applications. — : John Wiley &amp; Sons, 2022         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref28">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Zhan C., Neal J., Wu J., Jiang D. E. // J. Phys. Chem. C. — 2015. — Vol. 119. — No. 39. — P. 22297–22303         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Zhan C., Neal J., Wu J., Jiang D. E. // J. Phys. Chem. C. — 2015. — Vol. 119. — No. 39. — P. 22297–22303         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref29">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Zhou Q., Ju W., Liu Y., Li J., Zhang Q. // Appl. Surf. Sci. — 2020. — Vol. 510. — P. 145448         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Zhou Q., Ju W., Liu Y., Li J., Zhang Q. // Appl. Surf. Sci. — 2020. — Vol. 510. — P. 145448         
        </mixed-citation>
      </ref>
      <ref id="ref30">
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="ru">
          Neto A. C., Guinea F., Peres N. M., Novoselov K. S., Geim A. K. // Rev. Mod. Phys. — 2009. — Vol. 81. — No. 1. — P. 109         
        </mixed-citation>
        <mixed-citation publication-type="other" xml:lang="en">
          Neto A. C., Guinea F., Peres N. M., Novoselov K. S., Geim A. K. // Rev. Mod. Phys. — 2009. — Vol. 81. — No. 1. — P. 109         
        </mixed-citation>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>

</article>